走査型近接場光顕微鏡（Near field scanning optical microscopy）

近接場光という特殊な光を利用した走査型の顕微鏡のことである。しばしばNSOM（Near field scanning optical microscopy）とも呼ばれる。

細いプローブで試料を走査するという点では走査型トンネル顕微鏡（Scanning Tunneling Microscope; STM）や原子間力顕微鏡（Atomic Force Microscope; AFM）などと同様の仕組みであり、SNOMも走査型プローブ顕微鏡（Scanning Probe Microscope; SPM）の一種類といえる。

　○　フォトン走査型トンネル顕微鏡（Photon scanning tunneling microscopy; PSTM）

プリズムに全反射させた時に生じる近接場光を試料に当ててプローブで走査する

　○　無開口近接場顕微鏡（Apertureless near-field optical microscopy, Apertureless SNOM）

AFM装置のカンチレバープローブ先端部を近接場光の発光源とする

　○　反射モード近接場光走査顕微鏡（Near-field optical scanning microscopy in reflection, RNFOS）

光ファイバーの代わりにアルミ膜つきガラススライドで近接場光を作る

　○　近接場磁気光学顕微鏡（Magneto-optical SMON; MO-SNOM）

光弾性変調器（PEM）とその偏光変調された光を使い、カー効果を利用して磁気光学的に試料の磁気分布を読み取る機能を持つSMON 。磁気と同時に試料の形状を走査できるものもある

　⇒　顕微鏡（microscope）の種類