BIST（Built In Self Test）

　デバイスの内部に、テスト対象回路に与えるテストパターンを発生するテストパターン生成器、テスト対象回路からの出力パターンを圧縮するテストパターン圧縮器、圧縮されたテストパターンを期待出力パターンと比較する比較器を組込むことにより、自己テストを行う手法。

　○　BOST（Built Out Self Test ,Built Off Self Test）

　Self Testは BIST 回路のチップ・オーバヘッドを削減するために、BIST回路をテスト・ボード上に構成してDFTテストを実行させる方式。

　⇒　DFT（design for testability）