DFT（design for testability）

　DFT（design for testability）は，日本語では「テスト容易化設計」と言われる。LSIをテストしやすくする（LSIのテスタビリティを高める）ために，回路内に付加回路を作り込んでおくテスト技術のことを言う。

　テスタビリティ（テストのしやすさ）は，「可制御性」と「可観測性」という二つの尺度で表されることが多い。このうち「可制御性」は，テスト対象回路の内部状態が外部端子からどの程度容易にコントロールできるかを表す尺度である。一方，「可観測性」は，テスト対象回路の内部状態がどの程度容易に外部端子で観測できるか表す尺度となっている。DFTはLSIにテスト用の回路を付加することにより，これらの尺度を改善し，回路のテストを容易にする。

例として、テストポイントの追加、パラメトリック測定デバイス、自己テスト診断、テストモード、およびスキャン設計がある。

　○　

　

　⇒