ATPG（automatic test pattern generator）

　ATPG（automatic test pattern generator）は，論理LSIテスターで使うテスト・パターンを自動生成するEDAツール。現在のATPGが主に対象にするのは，機能テスト（ファンクション・テスト）を代替する構造テスト用のテスト・パターンである。

　○　経路活性化法

　　経路活性化法で最初に提案された完全なテスト生成アルゴリズムは「Dアルゴリズム」と呼ばれる。その後，「PODEM（Path Oriented DEcision Making）アルゴリズム」，「FAN （FAN-out-oriented test generation algorithm）」，「SOCRATES（Structure-Oriented Cost-Reducing Automatic TESt pattern generation system）」などが実用化された。ここで，完全なテスト生成アルゴリズムとは，対象とする故障が冗長（いかなる入力に対しても出力が正常な回路と同じ故障）であるか否かを判定し，冗長でなければテスト・パターンを必ず生成できるアルゴリズムを言う。

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