外部ループバック（External Loop Back）

　DFT (Design For Testability：テスト容易化設計)技術の一つとして、送受信双機能を1チップ内に持つデバイスにおいて、自らの送信信号を自身の受信機能で受信し、機能判定を行うループバック試験がある。　ループバック試験機能はデバイス内部に組み込まれる事が多く、内部ループバックと呼ばれるが、ロードボード上の追加回路等によりデバイス外部で同等の信号経路を設ける環境を外部ループバックと呼ぶ。

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　⇒　DFT（design for testability）